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美國GE探傷儀直探頭B0.5SL
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：B0.SL 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE探傷儀直探頭B0.5SL
美國GE探傷儀直探頭 主要應用領域 通常：用于容積形或者平行于表面的缺陷的探測和評估。可互換的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面 也達到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。
特性：在粗糙表面上具有穩定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
O= 提供探頭數據表
O= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。帶可更換保護膜的直探頭 主要特性：
·單晶探頭實現聲波的發射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上，由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性
·如果及時地更換保護膜，則探頭的磨損可以達到*小
·特殊的粗晶探頭，在測試高衰減材料時，利用短脈沖可以達到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型，因此實際形狀具有很高的穩定性
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估�？筛鼡Q的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達到*好耦合，并防止探頭磨損。類型[訂購號碼] D [mm] f [MHz] AB [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀編號 B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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