,,

當前位置：深圳市泰立儀器儀表有限公司 > 產品中心 > 工業無損檢測 > 美國GE貝克休斯低頻探頭K0.25G

美國GE貝克休斯低頻探頭K0.25G

產品型號：

K0.25G

品牌：

美國GE

≧1 只
￥12000.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2025-06-06

詳細信息

| 詢價留言

	品牌：美國GE		型號：K0.25G		加工定制：否
	用途：探傷儀測厚儀探頭		是否進口：是		產地：美國

美國GE貝克休斯低頻探頭K0.25G

應用
•結構規則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測

功能特和優勢
•歐式型號具有可更換的軟保護膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護膜：
– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。
– BNC 連接器，側面或頂部安裝

這些頻率低于0.5 MHz的探頭用于測試具有強聲波吸收特性的材料如陶瓷戽斗插頭、天然石、烤爐石、木材、橡膠和水泥等，在低于0.1MHz的頻率下利用發射器探頭和接收器探頭進行信號傳輸。USD10NF特別適合于這類任務。