 |
-
V203-RM探傷儀探頭美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào)： V203-RM 品 牌： 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2025-06-07 詳細(xì)信息品牌：美國(guó)泛美 型號(hào)：V203-RM 加工定制：否 類型：超聲波 測(cè)量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：1 kg 分辨率：20*22 V203-RM探傷儀探頭美國(guó)泛美 介紹
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。
可更換延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和 一個(gè)固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
選購(gòu)型號(hào):
可更換延遲塊探頭選項(xiàng)頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸探頭
工件編號(hào)MHz 英寸 毫米 2.25 0.25 6 V204-RM 5 0.50 13 V206-RM 0.25 6 V201-RM 10 0.25 6 V202-RM 0.125 3 V203-RM 15 0.25 6 V205-RM 20 0.125 3 V208-RM 標(biāo)準(zhǔn)
晶片尺寸標(biāo)稱
延遲塊高溫 干耦合
延遲塊備用固定環(huán) 帶有彈簧的支架 *高175°C
(350°F)*高260°C
(500°F)*高480°C
(900°F)英寸 毫米 0.50 13 DLH-2 DLHT-201 DLHT-2 DLHT-2G DLS-2 DRR-2 2130 0.25 6 DLH-1 DLHT-101 DLHT-1 DLHT-1G DLS-1 DRR-1 2127&DRR-1H 0.125 3 DLH-3 DLHT-301 DLHT-3 DLHT-3G DLS-3 DRR-3 2133&DRR-3H
-
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：[email protected]
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.viptaxi.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
