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貝克休斯水浸探頭IA5.8

產品型號：

IA5.8

品牌：

≧1 只
￥12000.00

所在地：

廣東深圳

更新日期：

2025-06-14

詳細信息

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	品牌：GE		型號：IA5.8		加工定制：否
	用途：超聲波探頭		型號：IA5.8		加工定制：否

貝克休斯水浸探頭IA5.8

A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開：例如半導體基體、電氣插頭和表面保護層中的材料分離、氣孔和雜質等。同樣地，它還可以應用于擴散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預制成型零部件的測試。

主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。

探頭分為兩大類：接觸式和水浸式

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測