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美國Dakota NDT多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
| 產品型號： |
/CMX3-DL |
| 品 牌： |
美國Dakota NDT |
|
|
| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-05-29 |
| | 品牌：美國Dakota NDT | | 型號：/CMX3-DL | | 加工定制：否 | |
| | 測量范圍：0.63 ～508 mm | | 測量誤差：1% | | 測量分辨率：0.01mm | |
| | 數據存儲：內置4GB SD卡 | | 工作頻率：5-20 MHz | | 外形尺寸：63.5x165x31.5 mm | |
美國Dakota NDT多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
美國DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測厚儀，替代CMXDL+標準版和彩屏版。可測量材料的厚度和穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。可配雙晶探頭和單晶探頭。
美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。
CMX2-DL為灰度顯示屏 CMX3-DL彩屏顯示
特點
100MHz FPGA時序電路設計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調節增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB
自動時間相關增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式： 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數據接口
內置4GB SD存儲卡
美國Dakota NDT多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL技術參數
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～18542m/s
單位：公制或英制
校準：一點和兩點校準方式
顯示
CMX2-DL顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素。可視區62x45.7mm，EL背光；
CMX3-DL顯示屏：1/4英寸AMOLED彩色顯示屏，320x240象素
A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數
大數字方式：標準厚度顯示，數字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
厚度條形掃描：速度33Hz，在B-掃描和大數字顯示中可見
穩定度指示：表示測量值的穩定性
功能狀態指示：顯示當前激活的功能
超聲波參數
測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖：可調方波脈沖發生器
接收：根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可調
計時：單次8位100MHz超低功耗數字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復頻率：250Hz
探頭
頻率范圍：1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口，1.2米探頭線
存儲
容量：內置4GB SD卡
數據結構：網格(字母數字)和順序(自動識別)
截屏功能：位圖圖形捕獲，用于快速記錄
數據輸出：通過USB Type-C連接的計算機
功能
設置：64個用戶定義設置，用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選：內置雙路誤差校正，提高線性度
報警模式：上下限視聽報警
快速掃描模式：每秒250個讀數，當探頭離開時顯示*小值
其他
鍵盤：12個觸摸鍵
電源：標配為三節5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度：-10～60℃
尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含電池385g
包裝：ABS工程塑料箱
出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準
雙晶探頭參數
| 型號 |
頻率 |
探頭晶片直徑 |
探頭防磨面直徑 |
測量范圍 |
說明 |
| T-102-2900 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
標準CT探頭(可測涂層厚度) |
| T-101-2900 |
5.0MHz |
4.76mm |
6.35mm |
1.0～50mm |
小管徑CT探頭 |
| T-102-3300 |
7.5MHz |
6.35mm |
9.53mm |
0.63～152mm |
超薄探頭 |
| T-104-2900 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚CT探頭 |
| T-042-2000 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
標準高溫探頭，*高340℃ |
| T-044-2000 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚高溫探頭，*高340℃ |
| T-212-2001 |
5.0MHz |
6.35mm |
9.53mm |
1.0～152mm |
超高溫探頭，*高480℃ |
| T-214-2001 |
5.0MHz |
12.7mm |
15.88mm |
1.27～508mm |
超厚超高溫探頭，*高480℃ |
注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑
單晶探頭參數
| 探頭型號 |
頻率 |
描述 |
說明 |
| T-402-5507 |
15MHz |
晶片Ø6.35mm |
標準延遲塊探頭 |
| T-402-6507 |
20MHz |
晶片Ø6.35mm |
延遲塊探頭 |
| T-4903-2875 |
5MHz |
晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm |
接觸式探頭 |
| T-4903-4875 |
10MHz |
晶片Ø3.18mm，防磨面Ø6.35mm |
接觸式探頭 |
| T-4023-2855 |
5MHz |
晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm |
接觸式探頭 |
| T-4023-4855 |
10MHz |
晶片Ø6.35mm，防磨面Ø9.53mm |
接觸式探頭 |
| T-481-4507 |
10MHz |
延遲塊前端Ø1.59mm |
筆式探頭 |
美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置，以獲得更好的性價比。
