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日立X射線熒光分析儀X-MET8000 Geo
詳細(xì)信息品牌:日立 加工定制:否 型號(hào):X-MET8000 Geo 光源:4瓦特X射線管 波長(zhǎng)范圍:** nm 焦距:** mm 外形尺寸:** mm 重量:1500 g 適用范圍:覆蓋所有元素
日立X射線熒光分析儀X-MET8000 Geo
公司簡(jiǎn)介
日立分析儀器是日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的一家全球性公司。該公司總部位于英國(guó)牛津,在芬蘭、德國(guó)和中國(guó)有研發(fā)和組裝業(yè)務(wù),在全球多個(gè)國(guó)家有銷售和支持業(yè)務(wù)。X-MET⁸000 Geo是一款X射線熒光分析儀(XRF),用于在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行環(huán)境土壤和沉積物篩選。該儀器可快速執(zhí)行大量分析并完成測(cè)試程序,有助于大幅度降低對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的需求以及相關(guān)的成本。
我們的革命性BOOSTTM技術(shù)可提供快速精確測(cè)量關(guān)鍵元素(例如,US EPA Method6200 RCRA和優(yōu)先元素)所需的低檢測(cè)限。
X-MET集成了GPS,可將地理位置數(shù)據(jù)與分析結(jié)果相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)完美的現(xiàn)場(chǎng)地圖繪制。該儀器也與Trimble接收器配合,獲得更準(zhǔn)確的位置數(shù)據(jù)。
為什么 X-MET8000 Geo 是您企業(yè)的理想之選
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量和篩選
在具有多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的區(qū)域使用X - MET,有助于現(xiàn)場(chǎng)決策,不必為了等待實(shí)驗(yàn)室結(jié)果而暫停工作。
幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果
采用我們的標(biāo)準(zhǔn)土壤校準(zhǔn)可同時(shí)測(cè)量多達(dá)40種元素,幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果,所需樣品制備量*小。
*少培訓(xùn)
具備“一鍵即測(cè)”的簡(jiǎn)單操作。開(kāi)箱即可使用。
舒適
重量輕(1.5 kg)、出色的人體工學(xué)設(shè)計(jì)和長(zhǎng)達(dá)10 - 12小時(shí)的電池壽命可確保工作流程不會(huì)出現(xiàn)中斷,且疲勞度降至*低。
經(jīng)濟(jì)成本低
X-MET可承受*惡劣的環(huán)境和天氣條件,其具備 IP54防護(hù)等級(jí)(相當(dāng)于NEMA3),有著超高的防塵和防水性能。該分析儀符合MIL-STD-810G強(qiáng)度標(biāo)
準(zhǔn)。
高級(jí)數(shù)據(jù)管理
多種報(bào)告格式可選,可直接下載到 U 盤,或通過(guò) USB 數(shù)據(jù)線傳到 PC上,也可利用 WiFi 或藍(lán)牙實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)共享。
您可以隨時(shí)使用我們的ExTOPE Connect移動(dòng)應(yīng)用程序共享結(jié)果,我們的云服務(wù)使您能夠?qū)崟r(shí)安全地導(dǎo)出結(jié)果、照片和GPS坐標(biāo)。甚至可以用單個(gè)賬戶管理一系列X- MET的結(jié)果。
X-MET8000 Smart
X射線管:40kV
濾光片:?jiǎn)我?br /> 檢測(cè)器:大面積 SDD
*高樣本溫度:400ºC
符合 IP54 等級(jí)
Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞
校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP)
內(nèi)置攝像頭 (可選)
X-MET8000 Optimum
X射線管:40kV or 50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測(cè)器:大面積 SDD
*高樣本溫度:100ºC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)
內(nèi)置攝像頭(可選)
小光班準(zhǔn)直器(可選)
針對(duì)所有元素(從鎂到鈾)進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管:50kV
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器
檢測(cè)器:大面積 SDD
*高樣本溫度:100ºC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400ºC(可選)
符合 IP54 等級(jí)
可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)
校準(zhǔn)方法:自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(可進(jìn)行追溯)
內(nèi)置攝像頭
小光班準(zhǔn)直器 (可選)
針對(duì)所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片
可選附件
我們提供全系列附件以簡(jiǎn)化測(cè)試工作。
輔助桿
對(duì)于難以到達(dá)的分析地點(diǎn),改進(jìn)測(cè)量人體工學(xué)設(shè)計(jì)的 X-MET 桿提供了簡(jiǎn)單的解決方
案。需要在表面面積很大的區(qū)域進(jìn)行測(cè)量時(shí),X-MET 桿可提供幫助。
兩腳架
需要較長(zhǎng)的分析時(shí)間時(shí),即超過(guò) 30 秒,使用兩腳架可解放雙手。
臺(tái)式支架
從便攜式到臺(tái)式配置,數(shù)秒內(nèi)將 X-MET8000 變身成臺(tái)式儀器,滿足用戶大量樣品測(cè)定及操作安全,同時(shí)提高分析數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性及檢出限。
輻射防護(hù)
*小化散射輻射。輕型支架和安全護(hù)罩用于粉末的快速分析。可放入X-MET機(jī)箱,完全便于攜帶。
便攜式藍(lán)牙打印機(jī)
將結(jié)果打印在紙張或不干膠標(biāo)簽上,并貼在試樣上;方便且不會(huì)混淆。
皮套和皮帶
分析儀的免提現(xiàn)場(chǎng)攜帶裝置 。可快速更換的防護(hù)窗口我們可快速更換的防護(hù)窗口意味著無(wú)需使用任何工具便可更換已損壞或玷污的窗口,避免探測(cè)器損壞和高昂的維修成本。
日立產(chǎn)品系列包括
微焦斑XRF鍍層分析儀:FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可測(cè)量單層和多層鍍層(包括合金層)的鍍層厚度,適用于質(zhì)量控制或過(guò)程控制程序以及研究實(shí)驗(yàn)室。
RoHS分析儀:日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析儀專為“有害物質(zhì)限制”分析而設(shè)計(jì),快速且易用,其靈活性能確保適應(yīng)不斷發(fā)展的法規(guī)規(guī)定。及時(shí)的樣品分析對(duì)于環(huán)境篩選操作而言至關(guān)重要,可以快速準(zhǔn)確地收集修復(fù)和評(píng)估數(shù)據(jù)。
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留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
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http://m.viptaxi.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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