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Olympus奧林巴斯可更換延遲塊探頭V260-SM V260-RM V260-45
詳細(xì)信息品牌：Olympus 型號：V260-SM V260-RM V260-45 加工定制：否 適用對象：探傷測厚儀探頭 型號：V260-SM V260-RM V260-45 加工定制：否 奧林巴斯可更換延遲塊 高精度測厚探頭
V260-SM V260-RM V260-45高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。
高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了極佳的時(shí)間分辨率。
• 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。
• 可對材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時(shí)，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價(jià)、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。奧林巴斯可更換延遲塊 高精度測厚探頭
sonopen可更換延遲塊探頭• 聚焦的可更換延遲塊。
• 探頭直徑極小的特點(diǎn)可以提高在曲面及小缺口上的檢測性能。• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率 晶片尺寸 標(biāo)稱 探頭
MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45° 手柄
15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
SLH-V260-SM*裝有彈簧的支架，*僅與V260-SM一起使用
Sonopen可更換延遲塊 探頭接觸直徑 工件編號 英寸 毫米 0.080 2.0 DLP-3 0.060 1.5 DLP-302 0.080 2.0 DLP-301* * 高溫延遲塊可在溫度高達(dá)175°C（350°F）的情況下使用。
帶有手柄組合件的延遲塊探頭
這些探頭用于伸到空間極其狹小的區(qū)域進(jìn)行探測，如：
相距很近的渦輪葉片。探頭可旋轉(zhuǎn)的頭部提高了
其在狹小區(qū)域接觸被測工件的能力。
參數(shù)
頻率 標(biāo)稱 延遲塊長度 探頭工件編號晶片尺寸
MHz 英寸 毫米 微秒
20 0.125 3 1.5 M2054
20 0.125 3 4.5 M2055
20 0.125 3 4.0 V2034
美國達(dá)高特
公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長度測量。
產(chǎn)品系列
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測厚儀PVX
多功能超聲測厚儀系列
A/B掃描超聲波測厚儀MVX
多功能涂層超聲測厚儀CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測厚儀CMX DL+
MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測試儀
PR-8V精密超聲測厚儀
UMX-2 超輕量式水下測厚儀
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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產(chǎn)品分類
