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olympus奧林巴斯超聲波測厚儀45MG/38DL
詳細信息| 詢價留言品牌：olympus 加工定制：否 型號：/38DL 類型：超聲波 測量范圍：0.08-635 mm 顯示方式：數(shù)顯 電源電壓：9 V 外形尺寸：91.1•x•162•x mm 顯示方式：數(shù)顯 奧林巴斯超聲波測厚儀45MG
對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
使用雙晶探頭
45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。
這些應(yīng)用中*常使用的是雙晶探頭。
• • 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• • 當校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
• • 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• • 高溫測量：溫度可高達500•℃
B掃描成像（基于時間）
45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)*小值功能用于顯示掃查區(qū)域的*小厚度值�？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器*多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。
高溫表面
45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790• -SM、•D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達•500•℃ ）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的精確性。
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料•
進行厚度測量
使用單晶探頭
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
• • 在使用頻率范圍為2.25•MHz到30•MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量 值。
• • 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• • 測量厚度、聲速或渡越時間。
• • 自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作。
單晶軟件選項•
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米的極為精確的厚度測量。
這個選項與范圍在2.25•MHz到30•MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
• • 大多數(shù)薄材料和厚材料
• • 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
• • 壁厚薄如0.10毫米的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
• • 汽缸孔、渦輪葉片
• • 玻璃燈泡、瓶子
• • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
• • 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
單晶高穿透軟件選項•
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5•MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材
料等較厚或聲波衰減性較強的材料。
這個選項包含單晶選項。
• • 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
• • 厚鑄造金屬部件
• • 厚橡膠輪胎、履帶
• • 玻璃纖維船體、儲存罐
• • 復(fù)合材料板
• • 對于頻率范圍為0.5•MHz到1.0•MH的探頭，分辨率為0.01毫米
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
• • 自動回波到回波•
• • • 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
• - 增益調(diào)整
• - 擴展空白
• - 回波空白
穿透涂層技術(shù)
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。用戶在選擇了任何一個存儲探頭后，45MG測厚儀即會調(diào)出所有與這個內(nèi)置探頭相關(guān)的參數(shù)。
存儲的標準設(shè)置
45MG儀器帶有21個標準單晶探頭設(shè)置，可用于*常用的測量操作。這些默認探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。
存儲的自定義設(shè)置
45MG可*多存儲35個自定義單晶探頭設(shè)置，其中還包括校準信息。用戶可以連接適當?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進行厚度測量，甚至還可完成*復(fù)雜的測厚應(yīng)用。
材料聲速測量
45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其它屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標準功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)控鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)控復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。
縮減率測量
差值模式和縮減率模式是45MG的標準功能。差值模式顯示實際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異。縮減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的薄鋼板進行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。
奧林巴斯超聲波測厚儀45MG參數(shù)
測量
雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延遲到第YI個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波•（可選）在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量•（可選）利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度•
（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭）
單晶探頭測量模式•
（可選）
模式1：• 激勵脈沖與第YI個底面回波之間的時間間隔
模式2：• 延遲塊回波與第YI個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊式或水浸式探頭）
模式3：• 在激勵脈沖之后，位于第YI個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔•（使用延遲塊式或水浸式探頭）
厚度范圍 • 0.080•mm～635•mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量*全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍 0.508•mm/μs～18.699•mm/μs
分辨率•（可選擇）
低分辨率：0.1毫米
標準分辨率：0.01毫米
單晶選項：0.001毫米
探頭頻率范圍 標準：2.25•MHz～30•MHz（–3•dB）
高穿透（單晶選項）：0.50•MHz～30•MHz（–3•dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍 –10•℃～50•℃
鍵盤 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密
封。設(shè)計符合IP67標準。
外型尺寸（寬•x•高•x•厚）• 總體尺寸：91.1毫米•x•162毫米•x•41.1毫米
重量 431克
電源 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時間
３節(jié)AA堿性電池：20到21小時•
•3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
•3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準 設(shè)計符合EN15317標準。
顯示
彩色透反QVGA顯示 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米•x•41.15毫米
檢波 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）
輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡 *大容量：2•GB可插拔MicroSD存儲卡
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除
及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu) 6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報告• 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的*小值/*大值、*小值回顧、文件比較及報警報告
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機：13662293689
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